您当前的位置:首页>应用所>科研动态
科研动态

光电子中心“电容薄膜卷制缺陷在线识别系统关键技术研究”项目通过验收

作者:王依人   发布时间:2017-01-11   来源:光电子中心

1229日,光电子应用技术研究中心承担的皖江新兴产业技术发展中心企业合作项目电容薄膜卷制缺陷在线识别系统关键技术研究通过了在铜峰电子股份有限公司生产现场的项目验收。验收专家组由来自合肥工业大学、合肥研究院、铜陵市科技局、铜陵经开区经贸局、皖江中心及铜锋电子相关专家组成,组长由合肥工业大学计算机学院副院长杨学志教授担任。夏营威博士、张文博士等项目组主要技术负责人参加了本次验收会。

验收专家组在铜锋电子聚酯薄膜生产现场对“电容薄膜卷制缺陷在线识别系统”进行了现场评测。该系统利用计算机视觉检测相关技术,实现了每秒50次的频率对高速膜卷进行实时图像测量,光学测量头能够随着膜卷宽度和直径变化自适应调整。检测结果实时显示并能通过网络发送至物流系统,作为产品的质量身份之一,随产品一起进入后续流通环节。检测全过程无需人为干预,基本实现工业现场的在线巡检目标。

现场测试结束后,验收会在铜峰公司会议室召开,会议由杨学志教授主持。中科院合肥研究院科技发展处邓国庆处长首先介绍了项目背景、参会专家及研发团队情况,夏营威博士代表项目组作了项目工作报告,并解答了专家组的质询。专家组经讨论一致认为该项目很好完成了任务书要求的各项指标有效解决了企业的质检难题,予以通过验收,并建议尽快产业化并在行业推广。铜峰电子公司用户代表对在线检测系统给予很高评价,表示该项技术在薄膜在线质量检测方面有很好的应用价值,将尽快在企业内部建立批量检测应用示范生产线,铜陵市相关领导也表示将大力支持该技术的在企业的推广工作。

    铜峰电子是世界上最大的电容薄膜生产商,生产电容薄膜最大的技术难题是难以控制整卷薄膜的平整度,膜卷出现褶皱,将会影响下一步镀膜的平整度,从而导致电容器质量缺陷。该项目针对薄膜的光学、视觉特征,运用高速成像、弱光探测、机器学习和高速视频图像处理等先进技术,设计了视觉捕捉及分析系统,实时监测薄膜褶皱缺陷,解决了人工巡检不及时、漏检等难题,率先实现了薄膜卷制质量在线缺陷检测,填补国内空白并打破了国外公司的技术垄断,具有广泛的应用前景和行业推广价值。

现场设备

 

现场讲解

 

验收会议